| JIS No. | 表題 | 英文名称 | 国際整合 【整合度表記法】 |
対応国際規格情報 |  参考情報 |
|---|---|---|---|---|---|
| JIS C 5402:1992 | JIS C 5402:1992 電子機器用コネクタ試験方法 | Method for test of connectors for use in electronic equipment | MOD IEC 60169-1:1987;
MOD IEC 60512-1:1984; MOD IEC 60512-2:1985; MOD IEC 60512-3:1976; MOD IEC 60512-4:1976; MOD IEC 60512-5:1977; MOD IEC 60512-6:1984; MOD IEC 60512-7:1988; MOD IEC 60512-8:1984; MOD IEC 60512-9:1977 |
附表2 対応国際規格
IEC 60169-1(1987), IEC 60512-1(1984)〜-9(1977) |
1. 適用範囲 この規格は、主として電子機器に用いるコネクタ及び附属品の試験方法について規定する。
なお、この規格と個別規格との間に規定の相違がある場合は、個別規格の規定による。 |
| JIS C 5402-1:2002 | JIS C5402-1:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１部：一般 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 1: General | IDT IEC 60512-1:2001 | 序文 この規格は、2001年に第4版として制定されたIEC 60512-1 Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part1 - Geneal を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成し た日本工業規格である |
1. 一般
1.1 適用範囲及び目的 この規格は、基本規格として、電子機器用コネクタ(以下、コネクタという。) を試験するための、個別規格に規定される基本試験方法及び手順を含んでいる。また、この基本試験方法 及び手順は、個別規格に規定がある場合には、類似の部品にも使用してよい。 この規格の目的は、製品規格で使用ずる試験方法及び測定手順を規定することである。 この規格は、使用する試験、各試験で要求する厳しさ及び規格値を選択して規定するコネクタの品目別 通則、品種別通則及び個別規格とともに用いる。個別規格は、コネクタの試験に不可欠な測定手順からの 相違、更に必要とする特別な試験手順をも規定する。 この基本規格と他の製品規格との間に相違がある場合、製品規格の要求事項を適用する。 |
| JIS C 5402-1-3:2002 | JIS C5402-1-3:2002電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１−３部：一般検査 ― 試験１ｃ：電気的接触長 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 1-3: General examination -- Test 1c: Electrical engagement length | IDT IEC 60512-1-3:1997 | 序文 この規格は、1997年に第1版として発行されたIEC 60512-1-3、Electromechanical coponents for electronic equipment - Basic tesjng procedures and measuring methods - Part 1 : General examination - Section 3 : Test 1c - Electrical engagement length を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である、 | 1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクタ(以下、コネクタという。)を試験するために用いる。この試験は、個別規格に規定がある場合には、類似の部品にも使用してよい。
この試験の目的は、IEC 60050 の 581-03-15 のコネクタの電気的接触長を測定するために、標準の試験方法を規定することである。 |
| JIS C 5402-1-4:2002 | JIS C5402-1-4:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１−４部：一般検査 ― 試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ） | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 1-4: General examination -- Test 1d: Contact protection effectiveness (scoop-proof) | IDT IEC 60512-1-4:1997 | 序文 この規格は、1997年に第1版として発行された IEC 60512-14 Electromechanical compornents for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 1 : Gencral - Section 4 : Test 1d : Contact protection effectiveness(scoop-proof) を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお、この規格で点線の下線を施してある“参考”は、原国際規格にはない事項である。 |
1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクク(以下、コネクタという｡)を試験するために用いる。この試験は、個別規格に規定がある場合には、類似の部品にも使用してよい。
この試験の目的は、結合する相手コネクタの先端が当該コネクタのコンタクトに偶然接触することを防止する能力を検証するために、標準の試験方法を規定することである。この試験は、主にスクーププルーフを要求する丸形多極コネク列こ適用することを意図している。 |
| JIS C 5402-1-100:2002 | JIS C5402-1-100:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１−１００部：一般 ― 試験一覧 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 1-100: General -- Applicable publications | MOD IEC 60512-1-100:2001 | 序文 この規格は、2001年に第1版として制定されたIEC 60512-1-100, Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-100 : General - Applicable publications を基に、技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格であるが、対応国際規格に規定されていない規定項目を日本工業規格として追加している。
なお、この規格で点線の下線を施してある箇所は、原国際規格にはない事項である。 |
1. 適用範囲 この規格は、電子機器用コネクタの試験規格群の構成について規定する。 |
| JIS C 5402-10-4:2002 | JIS C5402-10-4:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１０−４部：過負荷試験 ― 試験１０ｄ：電気的過負荷 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 10-4: Overload tests -- Test 10d: Electrical overload | IDT IEC 60512-10-4:1996 | 序文 この規格は、1996年に第1版として発行された IEC 60512-10-4 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 10 : Impact tests(free components), static load tests(fixed components), endurance tests and overload tesls - Section 4 : Test 10d : Eleclrical overload(connectors) を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお、この規格で点線の下線を施してある“参考"は、原国際規格にはない事項である。 |
1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクタ(以下、コネクタという｡)の結合した対のコンタクトの電気的過負荷試験に適用する。
この試験の目的は、1ms から 1s のある限られた時間内に過負荷電流が流れる一対の結合したコンタクトの性能を評価するために、標準の試験方法を規定することである。 備考1. 実際は、限られた時間内で接触部分に損傷なくコンタクトに最大許容電流の数倍の電流を流すことができる。例えば、装置又はシステムの中で故障が発生する場合、保護回路が動作する前に 1ms から 1s の範囲で過渡的サージ電流が、コネクタの中を流れることがある。 |
| JIS C 5402-11-1:2002 | JIS C5402-11-1:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１１−１部：耐候性試験 ― 試験１１ａ：一連耐候性 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 11-1: Climatic tests -- Test 11a: Climatic sequence | IDT IEC 60512-11-1:1995 | 序文 この規格は、1995年に第1版として発行された IEC 60512-ll-1 Electromechanlcal components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 11 : Climatic tests - Section 1 : Test 11a - Climatic sequence を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお、この規格で点線の下線を施してある“参考’は、原国際規格にはない事項である。 |
1. 適用範囲及び目的 この試験の目的は、保管を含め通常の使用中に遭遇する可能性がある規定の環境及び方法で機能する電子機器用コネクタ(以下、コネクタという｡)の能力を評価するために標準の試験方法を規定することである。 |
| JIS C 5402-11-7:2002 | JIS C5402-11-7:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１１−７部：耐候性試験 ― 試験１１ｇ：混合ガス流腐食 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 11-7: Climatic tests -- Test 11g: Flowing mixed gas corrosion test | IDT IEC 60512-11-7:1996 | 序文 この規格は、1996年に第1版として発行された IEC 60412-11-7 Electromechanjcal components for electronic equjpment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 11 : Climatic tests - Section 7 : Testing : Flowing mixed gas corrosion test を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお、この規格で点線の下線を施してある“参考”は、原国際規格にはない事項である。 |
1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクタ(以下、コネクタという。)が電気的な接触又は接続において、非常に低濃度のガスに汚染された一定条件の雰囲気の影響を評価するために、標準の試験方法を規定することである。 |
| JIS C 5402-11-8:2002 | JIS C5402-11-8:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１１−８部：耐候性試験 ― 試験１１ｈ：砂じん | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 11-8: Climatic tests -- Test 11h: Sand and dust | IDT IEC 60512-11-8:1995 | 序文 この規格は、1995年に第1版として発行された IEC 60512-11-8 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 11 : Climatic tests - Scction 8 : Test 11h : Sand and dust を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。 | 1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクタ(以下、コネクタという。)が吹き付ける細かい砂じんに耐える能力を評価するために、標準の試験方法を規定する。 |
| JIS C 5402-11-14:2002 | JIS C5402-11-14:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１１−１４部：耐候性試験 ― 試験１１ｐ：単一ガス流腐食 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 11-14: Climatic tests -- Test 11p: Flowing single gas corrosion test | IDT IEC 60512-11-14:1996 | 序文 この規格は、1996年に第1版として発行された IEC 60512-11-14 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 11 : Climatic tests - Section 14 : Test 11p : Flowing single gas corrosion test を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお、この規格で点線の下線を施してある“参考”は、原国際規格にはない事項である。 |
1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクク(以下、コネククという。)を試験するために用いる。この試験は、個別規格に規定がある場合には、類似の部品に使用してもよい。
この試験の目的は、工場環境、かつ規定された濃度の汚染ガスの下での腐食の影響を評価するために、標準の試験方法を規定することである。この試験に続いて電気的試験を実施することは意図していない。しかし、個別規格で要求する場合には、この試験に続いてJIS C 5402-1-100 に記載する試験 1a(外観)、試験 2a(接触抵抗 - ミリボルトレベル法)、試験 2b(接触抵抗 - 規定電流法) 又は試験 2c(接触抵抗の変動)、試験 3a(絶縁抵抗) 及び試験4a(耐電圧) を規定きれた物理的及ぴ電気的試験条件下で行うことができる。 |
| JIS C 5402-12-6:2002 | JIS C5402-12-6:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１２−６部：はんだ付け試験 ― 試験１２ｆ：自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 12-6: Soldering tests -- Test 12f: Sealing against flux and cleaning solvents in machine soldering | IDT IEC 60512-12-6:1996 | 序文 この規格は、1996年に第1版として発行された IEC 60512-12-6 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 12 : Soldering tests - Section 6 : Test 12f : Sealing against flux and cleaning solvents in machine soldering を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。 | 1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクタ(以下、コネクタという。)を試験するために用いる。この試験は、個別規格に規定がある場合には、類似の部品に使用してもよい。
この試験の目的は、自動はんだ付け工程中におけるプラツクス及び洗浄液に対するコネクタの封止効果を検証するために、標準の試験方法を規定することである。試験の結果は、ここに規定する以外のフラツクス(例えば、ヤニ低含有発泡フラツクス)、フラツクス塗布方法及び洗浄方法に対応しないこともある。 |
| JIS C 5402-13-1:2002 | JIS C5402-13-1:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１３−１部：機械的動作試験 ― 試験１３ａ：結合力及び離脱力 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 13-1: Mechanical operating tests -- Test 13a: Engaging and separating forces | IDT IEC 60512-13-1:1996 | 序文 この規格は、1996年に第1版として発行された IEC 60512-13-1 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Parrt 13 : Mechanical operating tests - Section 1 : Test 13a : Engaging and separating forces を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。 | 1. 適用範囲及び目的 この規格は、コネクタが完全に結合又は離脱するのに要する力を測定するための標準試験の方法を規定する。そしてこれには、結合／離脱動作を補助する機構の効果を含める。
備考1. 用語“力”は、ここでは一般的な意味で使用されており、力及びトルクを含む。 |
| JIS C 5402-14-7:2002 | JIS C5402-14-7:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１４−７部：封止（気密性）試験 ― 試験１４ｇ：噴射水 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 14-7: Sealing tests -- Test 14g: Impacting water | IDT IEC 60512-14-7:1997 | 序文 この規格は、1997年に第1版として発行された IEC 60512-14-7 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 14 : Sealing tests - Section 7 : Test 14g : Impacting water を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある“参考”は、原国際規格にはない事項である。 |
1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクタ(以下、コネクタという。)を試験するために用いる。この試験は、個別規格に規定がある場合には、類似の部品に使用してもよい。
この規格の目的は、コネクタの噴射水又は規定する液体の影響を評価するために、標準の試験方法を規定することである。 |
| JIS C 5402-15-8:2002 | JIS C5402-15-8:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１５−８部：コネクタ試験（機械的試験） ― 試験１５ｈ：コンタクト保持機構，工具の使用に対する耐久性 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 15-8: Connector tests (mechanical) -- Test 15h: Contact retention system, resistance to tool application | IDT IEC 60512-15-8:1995 | 序文 この規格は、1995年に第1版として発行された IEC 60512-15-8 Electromechanical components for
electronic equipment - Basic testing procedures and measuring mehods - Part 15 : Mechamcal tests on contact and terminations - Section 8 : Test 15h - Contact retention system resistance to tool application を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。 なお、この規格で点線の下線を施してある“参考”は、原国際規格にはない事項である。 |
1. 適用範囲及び目的 この規格は、コンタクトの挿入工具及び引抜工具の使用に耐える電子機器用コネ
クタの能力を評価するための標準の試験方法を規定する。 |
| JIS C 5402-16-20:2002 | JIS C5402-16-20:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１６−２０部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験 ― 試験１６ｔ：機械的強度（無はんだ接続のターミネーション） | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 16-20: Mechanical tests on contacts and terminations -- Test 16t: Mechanical strength (Wired termination of solderless connections) | IDT IEC 60512-16-20:1996 | 序文 この規格は、1996年に第1版として発行された IEC 60512-16-20 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 16 : Mechanica1 tests on contacts and terminatjons - Section 20 : Test 16t : Mechanjcals trength(wired termination of solderless connections) を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。 | 1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクタを試験するために用いる。この試験は、個別規格に規定かある場合には、類似の部品に使用してもよい。
この試験の目的は、一体化したストレインリリーフ機構を含む無はんだ接続部の機械的強度を評価するために、標準の試験方法を規定することである。 |
| JIS C 5402-19-3:2002 | JIS C5402-19-3:2002 電子機器用コネクタ ― 試験及び測定 ― 第１９−３部：耐化学薬品試験 ― 試験１９ｃ：耐液性 | Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 19-3: Chemical resistance tests -- Test 19c: Fluid resistance | IDT IEC 60512-19-3:1997 | 序文 この規格は、1997年に第1版として発行された IEC 60512-19-3 Electromechanical cmponents for electrolic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 19 : Chemical resistance tests - Section 3 : Test 19c - Fluid resistance を翻訳し、技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお、この規格で点線の下線を推してある“参考”は、原国際規格にはない事項である。 |
1. 適用範囲及び目的 この規格は、電子機器用コネクタ(以下、コネクタという。)を試験するために用いる。この試験は、個別規格に規定がある場合には、類似の部品に使用してもよい。
この試験の目的は、コネクタの液体及び潤滑油の偶発的な暴露の影響を評価するために、標準の試験方法を規定することである。 |
| JIS No. | 表題 | 英文名称 | 国際整合 【整合度表記法】 |
対応国際規格情報 | 参考情報 |
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