特許番号 | 出願日 | 成立日 | 特許名称 |
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3741672 | 2002.07.08 | 2005.11.1 | 画像特徴学習型欠陥検出方法、欠陥検出装置 及び欠陥検出プログラム |
3754401 | 2002.07.08 | 2005.12.22 | 代表点計測に基づく画像歪み補正方法、 画像歪み補正装置及び補正プログラム |
特許番号 | 出願日 | 成立日 | 特許名称 |
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3396489 | 1991.10.31 | 2003.02.07 | ネットワーク型情報処理システム |
3476211 | 1992.12.03 | 2003.09.11 | ネットワーク型情報処理システムとその学習方法 |
3521964 | 1994.07.14 | 2004.01.06 | 粒体の粒度情報の計測方法及び装置 |
3745783 | 1994.06.08 | 2005.11.22 | パターン分類装置及びこの装置を利用する 状態監視システム |
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