代表発明者となっている特許

特許番号出願日成立日特許名称
37416722002.07.082005.11.1画像特徴学習型欠陥検出方法、欠陥検出装置
及び欠陥検出プログラム
37544012002.07.082005.12.22代表点計測に基づく画像歪み補正方法、
画像歪み補正装置及び補正プログラム

発明者に名を連ねている特許

特許番号出願日成立日特許名称
33964891991.10.312003.02.07ネットワーク型情報処理システム
34762111992.12.032003.09.11ネットワーク型情報処理システムとその学習方法
35219641994.07.142004.01.06粒体の粒度情報の計測方法及び装置
37457831994.06.082005.11.22パターン分類装置及びこの装置を利用する
状態監視システム

特許明細は特許情報プラットフォームで特許番号から参照することができます。

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